Kỳ thi tuyển sinh lớp 10 THPT diễn ra an toàn, nghiêm túc

.

ĐNO - Trong hai ngày 2 và 3-6, hơn 16.500 thí sinh trên địa bàn thành phố hoàn thành kỳ thi tuyển sinh lớp 10 năm học 2024-2025. Công tác coi thi được thực hiện nghiêm túc, bảo đảm trật tự, an toàn và đúng quy chế. 

Theo ghi nhận, các điểm thi được bố trí lực lượng cảnh sát giao thông, công an để phân luồng, nhắc nhở phụ huynh không đậu xe trước cổng trường để tránh ùn tắc giao thông và hỗ trợ thí sinh khi cần thiết. Lực lượng công an tham gia kỳ thi gần 200 người; tổng số nhân viên phục vụ, trật tự viên, tạp vụ, y tế, bảo vệ tại các điểm thi gồm 500 người.

Các điểm thi được bố trí lực lượng cảnh sát giao thông, công an để phân luồng, nhắc nhở phụ huynh không đậu xe trước cổng trường để tránh ùn tắc giao thông và hỗ trợ thí sinh khi cần thiết
Các điểm thi được bố trí lực lượng cảnh sát giao thông, công an để phân luồng, nhắc nhở phụ huynh không đậu xe trước cổng trường để tránh ùn tắc giao thông và hỗ trợ thí sinh khi cần thiết.
Đa số phụ huynh đều chở con đến trường từ sớm.
Đa số phụ huynh đều chở con đến trường từ sớm.
Các thí sinh có mặt sớm tại điểm thi để chuẩn bị cho những môn thi.
Các thí sinh có mặt sớm tại điểm thi để chuẩn bị cho những môn thi.
Kỳ thi tuyển sinh lớp 10 THPT năm học 2024 - 2025 diễn ra từ ngày 2-6 đến 4-6.
Kỳ thi tuyển sinh lớp 10 THPT năm học 2024 - 2025 diễn ra từ ngày 2-6 đến 3-6. (Ngày 4-6, thí sinh thi tuyển vào lớp 10 Trường THPT Chuyên Lê Quý Đôn). 
Nhiều phụ huynh không giấu được sự lo lắng, hồi hộp.
Nhiều phụ huynh không giấu được sự lo lắng, hồi hộp.
Chiều ngày 4-6, thí sinh thi môn chuyên, thời gian làm bài 150 phút, dành cho thí sinh đăng ký vào Trường THPT chuyên Lê Quý Đôn.
Chiều ngày 4-6, thí sinh thi môn chuyên, thời gian làm bài 150 phút, dành cho thí sinh đăng ký vào Trường THPT chuyên Lê Quý Đôn.
Tại điểm thi Trường THPT Phan Châu Trinh, nhiều thí sinh cho biết đề toán dễ, có thể đạt 8-9 điểm.
Tại điểm thi Trường THPT Phan Châu Trinh, nhiều thí sinh cho biết đề toán dễ, có thể đạt điểm cao.

 KHÁNH NGÂN

;
;
.
.
.
.
.
.